X射線檢測(cè)系統(tǒng)可以用于所有X、γ射線裝置的防護(hù)水平檢測(cè)，尤其適用于工業(yè)脈沖X光機(jī)及醫(yī)學(xué)攝影用X光機(jī)機(jī)房的泄露水平檢測(cè)，同時(shí)適用于脈沖反應(yīng)堆的感興趣區(qū)域劑量率檢測(cè)。是放射衛(wèi)生評(píng)價(jià)、環(huán)境影響評(píng)價(jià)、科學(xué)試驗(yàn)監(jiān)測(cè)、國(guó)土安全檢測(cè)、核應(yīng)急場(chǎng)合的理想檢測(cè)儀。

　　X射線檢測(cè)系統(tǒng)主要是檢測(cè)半導(dǎo)體接線處的焊接問題，焊接容易出現(xiàn)虛焊、漏焊等缺陷，一旦形成這些缺陷，半導(dǎo)體就容易出現(xiàn)短路等問題，為了半導(dǎo)體元件的正常使用，在焊接完成后需要進(jìn)行缺陷檢測(cè)。是目前市場(chǎng)上用于樣品內(nèi)部檢測(cè)的設(shè)備，相比較于其他類型的檢測(cè)設(shè)備。

　　X射線檢測(cè)系統(tǒng)儀器的工作原理：

　　該劑量?jī)x采用一支蓋革-彌勒計(jì)數(shù)管來(lái)測(cè)定輻射，當(dāng)每一次射線通過(guò)該GM管并引起電離時(shí)便使該GM管產(chǎn)生一次檢測(cè)電流脈沖，每個(gè)脈沖被電子管電路檢測(cè)并記錄為一個(gè)計(jì)數(shù)，該劑量?jī)x的顯示值為在你所選定的模式下的計(jì)數(shù)值。 由于放射性的隨機(jī)特性，故由劑量?jī)x所檢測(cè)到的計(jì)數(shù)值各分鐘有變化，當(dāng)取一段平均時(shí)間內(nèi)的讀數(shù)則較為正確，當(dāng)所取的時(shí)間間隔越長(zhǎng)則平均數(shù)越準(zhǔn)。

　　X射線檢測(cè)系統(tǒng)能較直觀地顯示工件內(nèi)部缺陷的大小和形狀，因而易于判定缺陷的性質(zhì)，射線底片可作為檢驗(yàn)的原始記錄供多方研究并作長(zhǎng)期保存，對(duì)薄壁工件無(wú)損探傷靈敏度較高。對(duì)體積狀缺陷敏感，缺陷影象的平面分布真實(shí)、尺寸測(cè)量精確。對(duì)工件表面光潔度沒有嚴(yán)格要求，材料晶粒度對(duì)檢測(cè)結(jié)果影響不大，可以適用于各種材料內(nèi)部缺陷檢測(cè)，所以在壓力容器的焊接質(zhì)量檢驗(yàn)中得到廣泛應(yīng)用。

　　但是，X射線檢測(cè)方法耗用的X射線膠片等器材費(fèi)用較高，底片評(píng)定周期較長(zhǎng)，檢驗(yàn)速度較慢，對(duì)厚壁工件檢測(cè)靈敏度低，只宜探查氣孔、夾渣、縮孔、疏松等體積性缺陷，能定性但不能定量，且不適合用于有空腔的結(jié)構(gòu)，對(duì)角焊、T型接頭的檢驗(yàn)敏感度低，不易發(fā)現(xiàn)間隙很小的裂紋和未熔合等缺陷以及鍛件和管、棒等型材的內(nèi)部分層性缺陷。